Life-Cycle Assessment of Semiconductors – Sarah B. Boyd | buch7 – Der soziale Buchhandel
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Autor/in: Sarah B. Boyd
Autor/in: Sarah B. Boyd

Life-Cycle Assessment of Semiconductors

Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices. A lack of reliable semiconductor LCA data has been a major challenge to evaluation of the potential environmental benefits of information technologies (IT). The analysis and results presented in this book will allow a higher degree of confidence and certainty in decisions concerning the use of IT in efforts to reduce climate change and other environmental effects. Coverage includes but is not limited to semiconductor manufacturing trends by product type and geography, unique coverage of life-cycle assessment, with a focus on uncertainty and sensitivity analysis of energy and global warming missions for CMOS logic devices, life cycle assessment of flash memory and life cycle assessment of DRAM. The information and conclusions discussed here will be highly relevant and useful to individuals and institutions.

Taschenbuch 09/2014
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Inhaltsverzeichnis

1 Introduction.- 2 Semiconductor LCI Methods.- 3 Semiconductor Manufacturing Trends in Product Type and Geography.- 4 Life-cycle Energy and Global Warming Emissions of CMOS Logic.- 5 Life-cycle Assessment of CMOS Logic.- 6 Life-cycle Assessment of Flash Memory.- 7 Life-cycle Assessment of Dynamic Random Access Memory.- 8 Semiconductor LCA: The Road Ahead.

Produktdetails

EAN / 13-stellige ISBN 978-1489992239
10-stellige ISBN 1489992235
Verlag Springer New York
Sprache Englisch
Anmerkungen zur Auflage 2012
Editionsform Hardcover / Softcover / Karten
Einbandart Taschenbuch
Erscheinungsdatum 17. September 2014
Seitenzahl 256
Beilage Paperback
Format (L×B×H) 23,5cm × 15,5cm × 1,5cm
Gewicht 394g
Warengruppe des Lieferanten Naturwissenschaften - Technik
Mehrwertsteuer 7% (im angegebenen Preis enthalten)
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