Autor/in: Sarah B. Boyd

Life-Cycle Assessment of Semiconductors

Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices. A lack of reliable semiconductor LCA data has been a major challenge to evaluation of the potential environmental benefits of information technologies (IT). The analysis and results presented in this book will allow a higher degree of confidence and certainty in decisions concerning the use of IT in efforts to reduce climate change and other environmental effects. Coverage includes but is not limited to semiconductor manufacturing trends by product type and geography, unique coverage of life-cycle assessment, with a focus on uncertainty and sensitivity analysis of energy and global warming missions for CMOS logic devices, life cycle assessment of flash memory and life cycle assessment of DRAM. The information and conclusions discussed here will be highly relevant and useful to individuals and institutions.

Gebunden 10/2011

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Inhaltsverzeichnis

1 Introduction.- 2 Semiconductor LCI Methods.- 3 Semiconductor Manufacturing Trends in Product Type and Geography.- 4 Life-cycle Energy and Global Warming Emissions of CMOS Logic.- 5 Life-cycle Assessment of CMOS Logic.- 6 Life-cycle Assessment of Flash Memory.- 7 Life-cycle Assessment of Dynamic Random Access Memory.- 8 Semiconductor LCA: The Road Ahead.

Produktdetails

EAN / 13-stellige ISBN	978-1441999870
10-stellige ISBN	1441999876
Verlag	Springer New York
Sprache	Englisch
Anmerkungen zur Auflage	2012
Editionsform	Hardcover / Softcover / Karten
Einbandart	Gebunden
Erscheinungsdatum	12. Oktober 2011
Seitenzahl	256
Beilage	HC gerader Rücken kaschiert
Format (L×B×H)	24,1cm × 16,0cm × 1,7cm
Gewicht	553g
Warengruppe des Lieferanten	Naturwissenschaften - Technik
Mehrwertsteuer	7% (im angegebenen Preis enthalten)

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